


產(chǎn)品分類Product Categories
| [ 脈沖腐蝕設(shè)備 ] | |
| [ 老化試驗(yàn)機(jī) ] | |
| [ 恒溫恒濕試驗(yàn)箱 ] | |
| [ 高低溫試驗(yàn)箱 ] | |
| [ 冷熱沖擊試驗(yàn)箱 ] | |
| [ 甲醛及VOC檢測(cè) ] | |
| [ 租賃服務(wù) ] |
服務(wù)熱線:134-1757-6705
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
COC測(cè)試機(jī)用于COC/COS封裝形式的 DFB、EML、SOA 芯片的常溫、高溫下的 LIV 綜合測(cè)試和光譜測(cè)試,支持 us 級(jí)直流/脈沖的輸出與測(cè)試,該設(shè)備支持雙工位測(cè)試、機(jī)械手全自動(dòng)上下料。
產(chǎn)品特性:
彈匣式自動(dòng)上下料,可裝載20個(gè)COC魚骨夾具,共640個(gè)COC
48/32位COC夾具同時(shí)適配于老化機(jī)和金線機(jī)
雙平臺(tái)設(shè)計(jì),節(jié)約上下料和控溫等待時(shí)間
TEC控溫(20~100℃),滿足控溫精度及穩(wěn)定度
支持LIV和光譜測(cè)試
支持背光功率測(cè)試功能
技術(shù)參數(shù):
類別 |
項(xiàng)目 |
指標(biāo) |
PIV |
輸出電流范圍 |
0~3000mA |
|
輸出電流精度 |
0.1%+100uA |
|
掃描步長 |
10uA |
|
掃描時(shí)間 |
<4 ms/點(diǎn) |
光譜 |
光路耦合時(shí)間 |
單模光纖<8s |
|
光路耦合功率 |
> -20dBm (透鏡+多模光纖) |
|
波長重復(fù)性 |
±0.1nm |
|
光譜測(cè)試時(shí)間 |
<2s |
溫度特性 |
控溫方式 |
TEC |
|
控溫范圍 |
20~100℃ |
|
溫度一致性 |
±1℃ |
|
溫度穩(wěn)定性 |
±0.5℃ |

咨詢熱線: 134 1757 6705

聯(lián)系人: 劉小姐

網(wǎng) 址: www.xhwsy.cn

地 址: 廣東省深圳市龍崗區(qū)深圳市光明新區(qū)光明街道
光明大街323號(hào)
填寫您的需求