


產(chǎn)品簡介:
COC老化機(COC Burn-In Tester)是專門用于半導(dǎo)體激光器(如DFB、EML等光電芯片)在封裝為 COC(Chip on Carrier)階段進行高溫、高電應(yīng)力老化篩選及壽命可靠性驗證的測試設(shè)備。
產(chǎn)品特性:
整機包含10個老化單元,最大可同時老化5120個COC
每個單元可裝載4個抽屜,老化抽屜獨立控制
老化抽屜離線裝載夾具
老化環(huán)境溫度60~100℃可設(shè)置
技術(shù)參數(shù):
類別 |
指標(biāo) |
項目 |
電源特性 |
輸出方式 |
恒流源 恒流+恒壓源 |
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單通道恒流源輸出電流范圍 |
50~2000mA |
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自適應(yīng)電壓范圍 |
0~5V |
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恒流源輸出電流精度 |
0.5%±1mA |
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恒流源輸出電流穩(wěn)定性 |
±1.5mA@24hrs |
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恒流源加電方式 |
共陰極 |
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恒壓源輸出電壓范圍 |
-5~0V |
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恒壓源輸出電流范圍 |
0~100mA |
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恒壓源輸出電壓精度 |
0.25%±50mV |
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恒壓源輸出電壓穩(wěn)定性 |
±50mV@24hrs |
溫度特性 |
控溫方式 |
TEC |
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控溫范圍 |
60~100°C |
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溫度一致性 |
±2°C |
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溫度穩(wěn)定性 |
±0.5°C |

咨詢熱線: 134 1757 6705

聯(lián)系人: 劉小姐

網(wǎng) 址: www.xhwsy.cn

地 址: 廣東省深圳市龍崗區(qū)深圳市光明新區(qū)光明街道
光明大街323號
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